INOVASI SISTEM PENGETESAN CHIP IC UNTUK MENINGKATKAN OEE (OVERALL EQUIPMENT EFFECTIVNESS ) PADA TESTER MICROFLEX

Industri semikonduktor menuntut tingkat presisi dan keandalan yang tinggi dalam proses final test Integrated Circuit (IC). Salah satu permasalahan yang sering terjadi pada proses continuity test menggunakan tester MicroFlex adalah terjadinya false reject, yaitu kondisi ketika IC yang secara fungsional masih memenuhi spesifikasi dinyatakan gagal uji. Permasalahan ini berdampak langsung terhadap peningkatan over rejection, penurunan output produksi, serta menurunkan nilai Overall Equipment Effectiveness (OEE), khususnya pada komponen quality. Penelitian ini bertujuan untuk menganalisis karakteristik terjadinya false reject pada continuity test, mengetahui pengaruhnya terhadap nilai OEE, serta mengembangkan inovasi sistem pengetesan berbasis indikator visual untuk membantu proses identifikasi dan penanganan masalah secara lebih cepat dan akurat.
Metode penelitian yang digunakan meliputi pengumpulan data hasil pengujian continuity test pada IC tipe DSO 150 mil menggunakan tester Microflex yang terintegrasi dengan handler gravity MT-9928X. Data hasil pengujian dianalisis untuk mengidentifikasi pola over rejection serta dampaknya terhadap komponen Availability, Performance, dan Quality dalam perhitungan OEE. Selanjutnya dikembangkan sistem indikator visual berbasis Visual Basic yang terintegrasi dengan database MySQL melalui ODBC untuk menampilkan karakteristik device dan tingkat false reject. Hasil penelitian menunjukkan bahwa false reject memiliki pengaruh signifikan terhadap penurunan komponen quality dan nilai OEE secara keseluruhan.
Implementasi sistem indikator visual mampu membantu teknisi dalam mempercepat proses troubleshooting, meminimalkan over rejection, serta meningkatkan efektivitas proses final test. dengan total kenaikan OEE sebanyak 4,5% maka total benefit di periode bulan april sampai dengan may di perkirakan naik sebesar 360K euro. Dengan demikian, inovasi sistem pengetesan berbasis indikator visual terbukti berkontribusi dalam meningkatkan nilai OEE dan mendukung peningkatan produktivitas di industri semikonduktor.
Kata kunci: False Reject, Continuity Test, MicroFlex, Overall Equipment Effectiveness (OEE), Indikator Visual, Final Test IC, Chip IC.